Servizio di Microsonda Elettronica – Caratteristiche

• Analisi chimica elementare (da Be a U) di tipo puntuale (spot da 1 a 20 µm) su materiali inorganici, basata su spettrometria in dispersione in lunghezza d’onda (WDS) dell’emissione di raggi‐X; ampio range di concentrazioni determinabili, dal composto puro sino a detection limits di ca. 100 parti per milione.
• Analisi chimica elementare ad alta sensitività di Be, B, C, N, O, F su materiali inorganici mediante WDS, con spot da 1 a 20 µm.
• Analisi chimica elementare (da Na a U) di tipo puntuale (spot da 1 a 20 µm) su materiali inorganici, basata su spettrometria per dispersione in energia (EDS).
• Mappatura chimica elementare, da Be a U, con risoluzione sub-µm su superfici piane di campioni inorganici con dimensioni anche centimetriche, integrando spettrometria WDS e EDS.
• Determinazione dello stato di legame in materiali inorganici sulla base del “chemical shift” (es. Si, SiO₂, SiC, Si₃N₄… Fe₂O₃, FeO, Fe).
• Caratterizzazione microstrutturale di materiali inorganici mediante microscopia elettronica (SEM) con risoluzione sub-µm mediante:
  • elettroni secondari (SE), retrodiffusi (BSE);
  • catodoluminescenza (CL).